1. 引言
车载MCU(微控制单元)作为汽车电控“大脑”,集成度持续提升(如英飞凌AURIX TC49x系列晶体管密度超1000万/mm²),功耗增至5W~15W,若PCB散热不良,会导致MCU温度超125℃(AEC-Q100 Grade 2上限),引发死机或性能降额——行业数据显示,28%的车载MCU故障源于过热,某车企曾因MCU过热导致车辆仪表盘黑屏,召回1.2万台。车载MCU PCB需符合**AEC-Q100(汽车集成电路可靠性标准)** 散热要求,捷配累计交付55万+片车载MCU PCB,芯片温度控制达标率99.6%,本文拆解MCU PCB散热核心原理、设计标准及量产方案,助力车企解决过热问题。
车载 MCU 电控 PCB 散热性能依赖三大技术要素,且需符合IPC-2221 第 5.5 条款对高功率 PCB 的散热要求:一是基材导热系数,普通 FR-4 基材导热系数仅 0.3W/(m?K),无法满足 5W 以上 MCU 散热,需选用导热系数≥1.2W/(m?K) 的高导热基材 —— 捷配测试显示,生益 S1141(导热系数 1.5W/(m?K))比普通 FR-4 散热效率提升 400%;二是散热铜皮设计,MCU 下方需铺设 “全覆铜” 区域(面积≥芯片面积 2 倍),铜厚≥2oz,铜皮导热阻抗需≤0.5℃/W,按GB/T 2423.1(电工电子产品环境试验) 散热测试标准;三是散热过孔,需在铜皮区域均匀布置散热过孔(孔径 0.3mm,间距 2mm),过孔数量≥20 个,降低层间散热阻抗,符合IPC-2226(高功率印制板设计标准) 要求。主流 MCU 散热方案中,“高导热基材 + 2oz 全覆铜 + 散热过孔” 组合 适配 5W~10W MCU,“金属基板 + 3oz 铜皮” 组合 适配 10W~15W 高功率 MCU(如自动驾驶域控 MCU),捷配可提供两种方案的定制生产,均通过 AEC-Q200 散热认证。
- 基材选型:根据 MCU 功耗确定基材 ——5W~10W 选生益 S1141(导热系数 1.5W/(m?K),Tg=170℃),10W~15W 选捷配定制金属基板(铝基板,导热系数 2.0W/(m?K)),通过捷配 “导热系数测试”(用激光导热仪 JPE-Laser-Heat 300)验证,确保达标;
- 铜皮与过孔设计:MCU 下方铺设全覆铜(面积 = 芯片面积 ×2.5),铜厚 2oz(高功率选 3oz),铜皮边缘距芯片引脚 0.5mm;散热过孔设为 0.3mm 孔径,间距 1.8mm,数量 = 铜皮面积 ÷(2mm×2mm),用捷配 PCB 设计软件(JPE-Design 6.0)自动生成过孔布局;
- 辅助散热设计:高功率 MCU(≥10W)需设计散热焊盘(面积 10mm×10mm,铜厚 3oz),焊盘与 MCU 底部散热 pad 焊接,同时在 PCB 背面加装散热片(铝制,厚度 1.5mm),用导热硅胶(导热系数 1.2W/(m?K))粘接,捷配 SMT 产线可同步完成散热片安装。
- 热阻测试:每批次首件用热阻测试仪(JPE-Thermal-500)测试 MCU 区域热阻,需≤0.8℃/W(5W~10W MCU)或≤0.5℃/W(10W~15W MCU),符合 AEC-Q100 散热要求;
- 温度测试:将 PCB 置于高温箱(JPE-TH-300),MCU 满载运行(100% 占空比),用红外热像仪(JPE-Infrared 800)监测芯片温度,需≤125℃(环境温度 85℃),不合格品追溯铜皮与过孔工艺;
- 长期稳定性测试:每季度抽取 100 片 PCB 进行 1000h 高温老化(85℃,MCU 满载),测试后芯片温度增量≤5℃,确保散热性能长期稳定。
车载 MCU 电控 PCB 散热设计需以 AEC-Q100 与 IPC-2226 为基准,核心在于 “高导热基材 + 低阻抗散热路径 + 辅助散热” 协同。捷配可提供 MCU PCB 专属服务:热仿真分析(ANSYS Icepak)、高导热材料定制、散热性能预测试,确保芯片温度达标。