1. 引言
智能穿戴设备(智能手表、手环)向“轻薄化”升级,无线充电PCB尺寸需控制在≤20mm(外径),但行业数据显示,60%的穿戴设备厂商因PCB尺寸过大,被迫压缩电池容量(减少15%~20%),导致续航差评率超20%。小型化无线充电PCB需符合**IEC 62368-1(音视频设备安全标准)第6.4条款**,在≤20mm尺寸下,充电效率需≥80%。捷配深耕穿戴设备PCB领域5年,累计交付150万+片≤20mm无线充电PCB,效率稳定在85%以上,本文拆解小型化设计核心难点、布局优化及线圈微型化方案,助力穿戴设备企业在小尺寸下平衡效率与续航。
智能穿戴无线充电 PCB(≤20mm)小型化的核心矛盾是 “尺寸压缩与效率保障”,需突破三大技术瓶颈,符合IPC-2221 穿戴设备附录要求:一是线圈微型化,≤20mm 尺寸下,线圈外径需≤18mm,线宽 0.2mm~0.3mm,匝数 12~14 圈,线宽每缩小 0.1mm,需增加 2 匝以补偿电感值,捷配测试显示,0.25mm 线宽 + 13 匝线圈(外径 18mm)的电感值 12μH,符合 Qi 标准要求;二是高密度布局,PCB 需集成线圈、电源管理芯片(如 Dialog DA213)、滤波电路,元件间距需≤0.3mm,采用 0201 封装元件(村田 0201 电容),布局密度提升 50%;三是基材选型,需选用薄型低损耗基材,生益 S2116 薄型基材(厚度 0.4mm,介电常数 4.2±0.1)重量仅 0.2g,远优于普通 FR-4(厚度 0.8mm,重量 0.4g),且损耗因子 0.002@1MHz,确保小尺寸下效率不下降。此外,小型化 PCB 需控制寄生参数,线圈寄生电容≤150pF,电源管理芯片散热焊盘面积≥0.3cm²,按IEC 61980-1 要求,避免因空间受限导致的热积累与参数漂移。
- 线圈微型化:线圈外径 18mm,线宽 0.25mm,匝数 13 圈,线间距 0.2mm,采用内侧绕线布局(节省空间),用捷配微型线圈设计工具(JPE-Coil-Wear 3.0)生成方案,电感值 12μH±0.5μH(用 LCR 测试仪 JPE-LCR-500 测试);
- 高密度布局:PCB 尺寸 19mm×19mm,采用 2 层板设计,顶层布局线圈与滤波电路,底层布局电源管理芯片(Dialog DA213),元件选用 0201 封装(电容村田 GRM0603R60J104KA01,电阻国巨 RC0201JR-07100RL),元件间距 0.3mm,用捷配布局优化工具(JPE-Layout-Wear 4.0)自动规避干涉;
- 基材与铜厚:选用生益 S2116 薄型基材(厚度 0.4mm),线圈铜厚 2oz(70μm),芯片散热焊盘铜面面积 0.4cm²,通过 2 个过孔(孔径 0.2mm)与底层接地铜面连接。
- 细线蚀刻管控:采用微蚀刻工艺,线宽公差控制在 ±0.01mm,蚀刻因子≥2.5:1,按IPC-TM-650 2.3.17 标准,每批次抽检 100 片,线宽超差率≤1.2%;
- 效率与尺寸测试:每批次首件用无线充电效率测试仪(JPE-Charge-Wear 600)测试,5V/1A 输入下,输出效率≥85%;用影像测量仪(JPE-Image-700)测试 PCB 尺寸,偏差≤±0.1mm;
- 可靠性测试:每批次送样至捷配实验室,按IEC 62368-1 进行 1000 次弯折测试(弯曲半径 5mm),无开裂、脱铜;高低温循环(-20℃~60℃)500 次,效率下降≤3%。
智能穿戴无线充电 PCB 小型化需以 “线圈微型化 + 高密度布局 + 薄型基材” 为核心,关键是在尺寸压缩下保障效率与可靠性。捷配可提供 “穿戴设备专属 PCB 服务”:支持≤15mm 超小尺寸定制,0201 元件高密度布局,实验室可提供弯折、高低温等可靠性测试。