1. 引言

 AOI（自动光学检测）是PCB量产外观检测的核心设备，但其误判率一直是行业痛点——数据显示，常规AOI检测误判率普遍在8%~15%，某PCB工厂曾因AOI误判导致5000片合格PCB被返工，直接损失超200万元，同时占用30%的人工复核时间，严重影响生产效率。PCB AOI检测需符合**IPC-A-600G（印制板外观标准）** ，误判率需≤3%（量产场景）。捷配拥有30条AOI检测生产线，服务500+量产客户，本文基于捷配生产端实战经验，拆解AOI误判核心原因、参数优化方法及量产管控策略，助力企业降低误判率、提升检测效率。

2. 核心技术解析

3. 实操方案

3.1 误判率优化四步法（操作要点 + 数据标准 + 工具 / 材料）

1. 光照校准：根据 PCB 表面材质（哑光 / 亮面）调整光照参数 —— 哑光 PCB 选用 45° 环形光源（强度 800lux），亮面 PCB 选用 90° 漫反射光源（强度 600lux），用光照度计（JPE-Lux-300）测试，光照均匀度≥95%，参考IPC-TM-650 2.8.2 校准要求；
2. 模板优化：导入 PCB Gerber 文件生成检测模板，用捷配模板校准工具（JPE-AOI-Temp 4.0）对比实际 PCB，自动修正线宽、间距偏差（≤±0.02mm），添加 “忽略区域”（如 PCB 边缘允许的轻微划痕），避免无效误判；
3. 算法调整：按缺陷类型设置阈值 ——① 线路划痕：宽度≥0.03mm、长度≥0.5mm 判定为缺陷；② 焊盘污点：面积≥0.05mm² 判定为缺陷；③ 孔位偏差：偏移≥0.1mm 判定为缺陷，用捷配算法调试工具（JPE-AOI-Alg 2.0）进行小批量测试（50 片 PCB），误判率≤3% 后锁定参数；
4. 人工复核优化：建立 “误判数据库”，将 AOI 判定的缺陷 PCB 进行人工复核（用 20 倍显微镜 JPE-Micro-200），对误判案例（如反光导致的 “假污点”）标注后反馈给 AOI 系统，系统自动学习优化，每周更新算法参数，误判率逐步降至 2% 以内。

3.2 量产管控措施（操作要点 + 数据标准 + 工具 / 材料）

1. 首件校准：每批次生产前，用首件 PCB 对 AOI 设备进行校准，光照均匀度≥95%、模板匹配度≥98%、算法阈值验证合格（误判率≤3%），校准记录保存至批次结束；
2. 过程监控：每 2 小时抽检 20 片 PCB，统计误判率（≤3%）与漏检率（≤0.5%），用捷配生产监控系统（JPE-Prod-Mon 3.0）实时显示数据，超限时自动报警，暂停生产调整参数；
3. 设备维护：每日清洁 AOI 镜头（用无尘布 + 无水乙醇），避免灰尘影响成像；每周校准光源强度（偏差≤±5%）；每月更新缺陷数据库，优化算法，设备维护记录保存≥6 个月。