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BGA 锡球开裂宕机问题:PCB 弯曲应力拆解,支撑设计解决路径

来源:捷配 时间: 2025/11/10 09:38:01 阅读: 86

1. 引言

 服务器PCB的BGA(如CPU、内存颗粒BGA)需长期承受高负载(电流>10A)与机械应力,锡球开裂是其致命故障——行业数据显示,未管控的服务器产线中,BGA锡球开裂率可达5%~8%,某数据中心曾因服务器BGA锡球开裂,导致20台设备同时宕机,数据丢失风险增加。按**JEDEC JESD22-B111标准**,服务器BGA锡球需承受1000次热循环(-40℃~125℃)无开裂,且弯曲应力下无断裂。捷配累计交付30万+片服务器BGA PCB,锡球开裂率控制在0.3%以下,本文拆解开裂根源、应力优化方法及量产管控措施,助力保障服务器稳定性。

 

2. 核心技术解析

服务器 BGA 锡球开裂的核心诱因是 “应力超过锡球承受极限”,需结合高负载特性拆解,且需符合IPC-2221 服务器版附录:一是 PCB 弯曲应力,服务器 PCB(通常 1.6mm~2.0mm 厚)在组装或运行中易产生弯曲,当弯曲应力>15MPa 时,BGA 边缘锡球开裂率上升 40%,捷配弯曲试验机测试显示,应力 20MPa 时,锡球断裂率达 25%;二是热循环应力,服务器 BGA 工作温度差异大(CPU BGA 温度可达 100℃,PCB 边缘仅 30℃),热膨胀系数(CTE)不匹配会导致锡球反复拉伸,SnAg3.0Cu0.5 锡球的 CTE 为 22ppm/℃,PCB CTE 需控制在 13ppm/℃~15ppm/℃,偏差超 3ppm/℃,开裂率增加 18%;三是锡球合金配比,纯 Sn 锡球延展性差,添加 Ag(3%)与 Cu(0.5%)可提升抗拉强度至 45MPa,若 Ag 含量<2%,抗拉强度下降 30%,易开裂,符合JESD22-A108 标准。此外,BGA 底部填充胶(Underfill)未覆盖或固化不良,会导致应力无法分散,开裂率增加 22%,需按IPC-9692 标准检测底部填充效果。

 

 

3. 实操方案

3.1 开裂防控四步法(操作要点 + 数据标准 + 工具 / 材料)

  1. PCB 应力优化:选用生益 S1000-2 基材(CTE 14ppm/℃±1ppm/℃,弯曲强度 500MPa),PCB 厚度设为 1.8mm±0.05mm,增加加强筋(宽度 2mm,厚度 1.8mm),用捷配应力仿真工具(JPE-Stress 3.0)验证,弯曲应力≤12MPa;
  2. 锡球合金选型:BGA 锡球采用SnAg3.0Cu0.5 合金(抗拉强度 45MPa,延展性 35%),禁止使用纯 Sn 或低 Ag 合金,锡球直径按 BGA 引脚间距匹配(0.8mm 间距用 0.5mm 直径锡球),符合 JESD22-A108;
  3. 底部填充工艺:BGA 焊接后,用点胶机(JPE-Disp-400)涂覆底部填充胶(汉高 UF3800,黏度 1000cP±200cP),填充高度覆盖锡球 2/3,固化条件 150℃/60min,用 X-Ray 检测填充覆盖率≥99%;
  4. 应力测试验证:每批次抽检 10 片 PCB,用弯曲试验机(JPE-Bend-500)施加 12MPa 应力,保持 30s,锡球无开裂;再进行 500 次热循环测试(-40℃~125℃),开裂率≤0.2%,方可量产。

3.2 量产开裂管控(操作要点 + 数据标准 + 工具 / 材料)

  1. PCB 应力检测:每批次 PCB 来料后,用应力测试仪(JPE-Stress-Test 2.0)抽检 20 片,弯曲应力≤12MPa,超差立即隔离;
  2. 底部填充监控:点胶机配备视觉检测系统(JPE-Vision-600),实时检查填充高度与覆盖率,每小时抽检 5 片做固化测试(硬度≥80 Shore D);
  3. 高负载老化测试:量产成品按 10% 比例进行 48 小时高负载老化(CPU 满载,温度 80℃),用红外热像仪(JPE-IR-400)监控 BGA 温度,老化后 X-Ray 检测锡球无开裂,确保长期稳定性。

 

服务器 PCB BGA 锡球开裂管控需 “材料选型 + 应力优化 + 工艺监控” 并重,核心是控制弯曲与热循环应力。捷配可提供 “服务器 BGA 专属服务”:PCB 应力仿真、底部填充工艺定制、高负载老化测试,确保开裂率达标。

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