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高多层 PCB AOI 检测(内层线路场景)

来源:捷配 时间: 2025/11/28 09:22:20 阅读: 121

1. 引言

 高多层PCB(≥8层)广泛应用于服务器、基站,其内层线路缺陷(短路、开路、分层)隐蔽性强,一旦流入后续工序,返工成本是普通PCB的5倍——某服务器厂商曾因AOI漏检12层PCB内层短路,导致2000片PCB报废,损失超400万元。高多层PCB内层AOI需解决“穿透检测+多层定位”难题,符合**IPC-6012 Class 3(高可靠性印制板规范)第5.3条款**对多层板检测的要求。捷配高多层PCB车间配备8条内层AOI线(蔡司VisuInspect、奥宝Technovision),累计检测8~24层PCB超300万片,本文拆解内层AOI穿透技术、分层缺陷判定、多层定位方案,助力高多层PCB质量管控。

 

2. 核心技术解析

高多层 PCB 内层 AOI 与普通 PCB 的核心差异在于 “穿透性” 与 “多层协同”,需遵循IPC-2221 第 6.4 条款(多层板设计)与GB/T 4677 第 6.2 条款(多层板测试),关键技术点包括:一是穿透光源技术,内层 AOI 需采用 “高功率 LED 穿透光”(功率≥100W),穿透深度覆盖 16 层 PCB(厚度≤4mm),不同层数 PCB 光源功率设置不同 —— 捷配测试显示,8 层 PCB 需 60W 光源,24 层 PCB 需 120W 光源,功率不足会导致内层线路漏检率超 15%;二是多层定位,通过 “内层基准点 + 层间对齐” 实现多层线路匹配,基准点偏差需≤±0.02mm,若偏差超 ±0.05mm,会导致内层短路误判率上升 20%;三是分层缺陷识别,高多层 PCB 分层多发生在半固化片与芯板之间,AOI 通过 “光强差异” 识别,分层面积>0.5mm² 即为不合格,符合IPC-A-600G Class 3 第 3.6 条款。主流内层 AOI 中,蔡司 VisuInspect 通过 “可调功率穿透光”(50W~150W)实现 16 层板检测,奥宝 Technovision 通过 “多层图像叠加” 实现层间定位偏差≤±0.01mm,两者均通过捷配 “高多层 PCB 适配验证”,可满足服务器、基站 PCB 需求。

 

 

3. 实操方案

3.1 高多层 PCB 内层 AOI 检测六步法

  1. 设备选型:根据层数选择 AOI——8~12 层 PCB 选奥宝 Technovision(穿透功率 80W);16~24 层 PCB 选蔡司 VisuInspect(穿透功率 120W),均需通过捷配 “穿透性测试”(用 16 层标准板 JPE-ML-CAL 测试,内层线路检出率 100%);
  2. 光源设置:按层数调整穿透功率 ——8 层:60W~70W,12 层:80W~90W,16 层:100W~110W,24 层:120W~130W;光源波长 550nm(可见光),确保内层线路对比度≥80%(用对比度计 JPE-Contrast-200 测试);
  3. 多层定位:① 内层设计 3 个≥1.5mm 的基准孔(分布在 PCB 对角),孔位误差≤±0.01mm;② AOI 执行 “层间对齐”,每层图像与基准层偏差≤±0.02mm;③ 启用 “多层叠加模式”,同步显示 8 层内层线路,便于发现层间短路;
  4. 缺陷阈值设定:按IPC-6012 Class 3设置:① 内层线路:线宽超差 ±8%,短路间距<0.1mm,开路断点>0.08mm;② 分层缺陷:面积>0.5mm² 或长度>1mm,光强差异>20%;③ 针孔:孔径>0.04mm 且位于线路中心;
  5. 首件验证:生产首件高多层 PCB 需经 AOI 检测 + 切片分析(按 IPC-TM-650 2.1.1 标准),确认:① 内层缺陷检出率 100%;② 分层识别准确率 100%;③ 检测速度≥15 片 / 小时(12 层板);
  6. 量产监控:每 2 小时抽取 20 片 PCB,执行:① 层间定位偏差测试(≤±0.02mm);② 穿透光功率检测(衰减≤5%);③ 分层缺陷复检(用超声波测厚仪 JPE-Ultrasonic-300 验证),数据同步至捷配多层板质量系统。

 

3.2 内层缺陷优化技巧

  1. 内层短路检测:启用 AOI “多层对比模式”,将当前层线路与设计 CAD 文件叠加,偏差>0.05mm 即判定为短路风险,捷配测试显示,该方法短路检出率提升至 99.9%;
  2. 分层缺陷识别:增加 “侧光辅助”(功率 30W,角度 45°),分层区域会产生阴影,光强差异阈值从 20% 降至 15%,分层漏检率降至 0.1%;
  3. 厚板穿透优化:24 层 PCB(厚度 4mm)检测时,采用 “分段扫描”(每段 5mm×5mm),光源停留时间从 10ms 增至 15ms,确保内层线路清晰,穿透性提升 25%。

 

高多层 PCB 内层 AOI 检测核心是 “穿透性匹配层数 + 多层定位精准 + 分层专项识别”,需以 IPC-6012 Class 3 为基准,避免因穿透不足或定位偏差导致隐蔽缺陷漏检。捷配可提供 “高多层 PCB 检测定制方案”:根据层数、厚度定制光源参数,免费提供多层基准板,切片实验室可复核 AOI 分层判定结果,满足服务器、基站等高可靠性需求。

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